Seminar Nichtkontakt-Raster-Kraftmikroskopie: Maschinelles Lernen und die Rastersondenmikroskopie [PHY-AFM-S]

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Dozenten

Beschreibung

In den letzten Jahren gibt es stark zunehmende Aktivität in der Verwendung von maschinellem Lernen und künstlicher Intelligenz im Feld der Rastersondenmikroskopie - sowie generell im Feld der Oberflächenphysik.

Dieses Seminar wird aktuelle Ansätze zur Kombination von maschinellem Lernen mit Rastersondenmikroskopie behandeln. Die Literatur zu diesem Thema kann grob in drei Bereiche unterteilt werden: (1) Ansätze zur Instrumentsteuerung und Automatisierung (insbesondere Präparation der Messspitze, autonomes Messen sowie Manipulieren), (2) Analyse experimenteller Daten (z.B. Objekterkennung und molekulare Identifikation) sowie (3) Methoden zur Erstellung und Analyse simulierter Daten (wie der Analyse von komplexen simulierten Daten und der Erstellung von Trainingssets).

Das Seminar wird mit einer Einführung in maschinelles Lernen (2 Unterrichtsstunden) sowie mit einem Überblick über die Rastersondenmikroskopie starten. In den verbleibenden Stunden werden von den Teilnehmenden Vorträge zu den obigen Themen gehalten.

Weitere Angaben

Ort: (32/372): Fr. 10:00 - 12:00 (9x) Freitag, 12.04.2024 10:00 - 12:00, 32/372: Mittwoch, 15.05.2024 14:00 - 16:30
Zeiten: Fr. 10:00 - 12:00 (wöchentlich), Termine am Freitag, 12.04.2024 10:00 - 12:00, Mittwoch, 15.05.2024 14:00 - 16:30
Erster Termin: Freitag, 12.04.2024 10:00 - 12:00, Ort: (32/372)
Veranstaltungsart: Seminar (Offizielle Lehrveranstaltungen)
ECTS-Punkte: 3

Studienbereiche

• Veranstaltungen > Physik > Promotionsstudiengang "NanoScience"
• Veranstaltungen > Physik > Masterstudiengang Physik/Physics > Wahlpflichtbereich
• Courses in English > Physics